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擊穿場強(qiáng)測試結(jié)果分析

更新時(shí)間:2023-11-01      點(diǎn)擊次數(shù):957

擊穿場強(qiáng)測試結(jié)果分析

對于摻雜納米粒子來提高環(huán)氧樹脂的擊穿性能,有很多科學(xué)工作者也都做過研究,王旗等研宄了在環(huán)氧樹脂中摻雜納米和微米氧化鋁對環(huán)氧樹脂擊穿強(qiáng)度的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,在環(huán)氧樹脂中摻雜納米氧化鋁會提高擊穿場強(qiáng),而摻雜微米氧化錯會降低復(fù)合材料的擊穿強(qiáng)度。而且,當(dāng)納米氧化鋁顆粒含量較低時(shí),加入納米氧化鋁顆粒到環(huán)氧樹脂降低了環(huán)氧樹脂的擊穿強(qiáng)度,當(dāng)納米氧化鋁質(zhì)量分?jǐn)?shù)達(dá)到5WT%時(shí),納米氧化鋁/環(huán)氧樹脂復(fù)合材料的擊穿強(qiáng)度超過了純環(huán)氧樹脂的擊穿強(qiáng)度。他認(rèn)為這是電于由于納米氧化鋁顆粒具有更大的比表面積,能夠在大分子及其鏈之間形成緊密連接,阻止初始電子移動,加入到環(huán)氧樹脂中后能消除環(huán)氧樹脂的部分缺陷,因此引入納米氧化鋁顆粒能提高環(huán)氧樹脂的擊穿強(qiáng)度與納米氧化鋁顆粒相比,單個(gè)微米氧化鋁顆粒過大,很難像納米氧化鋁顆粒一樣能與環(huán)氧樹脂形成緊密結(jié)構(gòu)。微米氧化鋁顆粒與環(huán)氧樹脂之間的松散結(jié)構(gòu),不能像納米氧化鋁顆粒一樣移除,隨添加奮增大,反而引入更多導(dǎo)致環(huán)氧復(fù)合材料擊穿強(qiáng)度降低的缺陷。該缺陷能夠使起始電子更容易移動,并隨著起始電子的撞擊而引入更多的電子,從而降低了擊穿強(qiáng)度。納米氧化鋁提高了環(huán)氧樹脂的擊穿強(qiáng)度,而微米氧化招則降低了擊穿強(qiáng)度。也研究了微米、納米、微/納米A1203對環(huán)氧樹脂擊穿強(qiáng)度的影響,研究結(jié)果發(fā)現(xiàn)摻雜微米氧化鋁的復(fù)合材料的擊穿強(qiáng)度較純環(huán)氧樹脂降低了55%,由202.8KV降低到90.3KV;而在微/納米復(fù)合材料又較納米復(fù)合材料擊穿電壓略高;偶聯(lián)劑對擊穿強(qiáng)度的影響不大。他認(rèn)為是由于納米粒子具有更高的擊穿強(qiáng)度,阻擋了電樹枝和放電通道的生長。

 

結(jié)合本次實(shí)驗(yàn)結(jié)果和酵前對于擊穿強(qiáng)度作用機(jī)理的研宄成果,對實(shí)驗(yàn)結(jié)果作出如下討論。當(dāng)環(huán)氧樹脂內(nèi)部不填加任何納米填料時(shí),環(huán)氧固化物會由于固化不全而形成分子團(tuán),在分子面之間,會形成缺陷,這在圖2-1中能清晰的看出,分子團(tuán)與分子團(tuán)之間都有較深的縫隙。由于這些缺陷的存在,導(dǎo)致環(huán)氧樹脂的擊穿強(qiáng)度較低。

 

當(dāng)環(huán)氧樹脂中摻雜納米粒子后,環(huán)氧樹脂擊穿電壓升高,—方面是納米粒子的形態(tài)緊,擊穿強(qiáng)度很高,預(yù)放電通道、電樹枝等可被納米填料中斷,其模型如下圖所示:

 

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另一方面,聚合物中摻雜納米粒子引入了大量陷阱或者使原有的陷阱能級變深,由于載流子的入陷和出陷,使得載流子自由程變短,遷移率降低,在電場作用下積累的動能也降低,減少了載流子對聚合物分予鏈的撞擊破壞,從而提高了擊穿場強(qiáng)。

當(dāng)添加量進(jìn)一歩増加時(shí)(超過5wt%),復(fù)合材料的擊穿強(qiáng)度開始下降,這可能是兩方面原因造成的。首先,當(dāng)納米粒子摻雜量較大時(shí),由于其表面能大,納米粒子開始團(tuán)聚,使得納米粒子具有的小尺寸效應(yīng)消失,并且在復(fù)合材料內(nèi)部引入了缺陷,從而使擊穿強(qiáng)度降低。其次,隨著導(dǎo)電粒子濃度的增加,導(dǎo)電粒子之間開始相互接觸,能形成連續(xù)導(dǎo)電逾滲網(wǎng)絡(luò),從而使材料的擊穿強(qiáng)度又逐漸降低。

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